實驗名稱：用于壓接式IGBT模塊的PCB羅氏線圈電流互感器的研究

實驗內(nèi)容：

分析羅氏線圈的集總參數(shù)模型并在此基礎(chǔ)上對比了自積分和微分工作方式下羅氏線圈的頻率特性，借助不同的模型重點分析了外界電流產(chǎn)生的干擾磁場/被測載流導(dǎo)體偏離線圈的對稱中心以及溫度變化對羅氏線圈產(chǎn)生的影響。設(shè)計周期信號傳變實驗對矩形羅氏線圈的微分工作方式進行驗證，實驗結(jié)果與仿真結(jié)果一致，本文以微分工作方式為例：

測試目的：為了驗證PCB羅氏線圈探頭的微分工作方式，設(shè)計了周期信號傳變實驗。

實驗設(shè)備：函數(shù)任意波形發(fā)生器、功率放大器、線圈電流探頭、羅氏線圈以及碳膜電阻若干。

實驗過程：

通過連接信號發(fā)生器與功率放大器，使得高壓放大器所輸出的電壓信號施加再碳膜電阻上，由線圈探頭與羅氏線圈探頭進行測量流經(jīng)碳膜電阻的電流，并進行波形對比分析。

信號發(fā)生器設(shè)置為2Vpp，手動觸發(fā)不同頻率的5個周期信號，正弦波（2.5MHz、1MHz、500KHz、250KHz）、三角波（400KHz、200KHz）。

測量結(jié)果：

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